XRF-2020膜厚儀韓國微先鋒

產品功能▩·₪•◕：

1. 採用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層厚度,單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層,不限基材↟◕╃！

1. 鍍層元素範圍▩·₪•◕：鈦～鈾✘•✘，包含常見的金✘✘│、鎳✘✘│、銅✘✘│、銀✘✘│、錫✘✘│、鋅✘✘│、金✘•✘，鉻✘•✘，鋅鎳合金等•·◕✘•。

2. 鍍層層數▩·₪•◕：可測5層•·◕✘•。

3. 測量產品位置尺寸▩·₪•◕：標準配備0.2mm準直器,測量產品大於0.4mm(可訂製更小準直器)

4. 測量時間▩·₪•◕：通常15秒•·◕✘•。

5. H型號機箱容納樣品尺寸▩·₪•◕：550 x 550 x 100 mm (長x寬x高)•·◕✘•。

6  L型號機箱容納樣品尺寸▩·₪•◕：550 x 550 x 30 mm (長x寬x高)•·◕✘•。

7. 測量誤差▩·₪•◕：通常小於5%✘•✘，視樣品具體情況而定•·◕✘•。

8. 可測厚度範圍▩·₪•◕：通常0.01微米到60微米✘•✘，視樣品組成和鍍層結構而定•·◕✘•。

產品引數▩·₪•◕：

X射線光管 鎢靶✘•✘，焦斑尺寸0.2-0.8mm

高電壓 50千伏（1毫安）可根據軟體控制最佳化

探測器 高分辨氣體正比計數探測器

準直器 單一固定準直器直徑0.2mm(可選或訂製其他規格)

·全自樣品臺✘•✘，自動雷射對焦