XRF-2020膜厚儀成都電鍍測厚儀

產品功能││：

1. 採用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層厚度,單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層,不限基材•↟☁╃！

1. 鍍層元素範圍││：鈦～鈾╃•◕，包含常見的金◕╃·₪、鎳◕╃·₪、銅◕╃·₪、銀◕╃·₪、錫◕╃·₪、鋅◕╃·₪、金╃•◕，鉻╃•◕，鋅鎳合金等╃↟│▩。

2. 鍍層層數││：可測5層╃↟│▩。

3. 測量產品位置尺寸││：標準配備0.2mm準直器,測量產品大於0.4mm(可訂製更小準直器)

4. 測量時間││：通常15秒╃↟│▩。

5. H型號機箱容納樣品尺寸││：550 x 550 x 100 mm (長x寬x高)╃↟│▩。

6  L型號機箱容納樣品尺寸││：550 x 550 x 30 mm (長x寬x高)╃↟│▩。

7. 測量誤差││：通常小於5%╃•◕，視樣品具體情況而定╃↟│▩。

8. 可測厚度範圍││：通常0.01微米到60微米╃•◕，視樣品組成和鍍層結構而定╃↟│▩。

產品引數││：

X射線光管 鎢靶╃•◕，焦斑尺寸0.2-0.8mm

高電壓 50千伏（1毫安）可根據軟體控制最佳化

探測器 高分辨氣體正比計數探測器

準直器 單一固定準直器直徑0.2mm(可選或訂製其他規格)

·全自樣品臺╃•◕，自動雷射對焦