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韓國測厚儀微先鋒XRF-2000

更新時間│₪✘:2022-09-22

簡要描述│₪✘:

韓國MicroP XRF-2020膜厚儀
檢測電子電鍍,五金電鍍,LED支架,端子聯結器,半導體等電鍍層厚度
快速無損檢測電子電鍍層厚度
韓國測厚儀微先鋒XRF-2000

微先鋒X射線鍍層測厚儀X-RAY膜厚儀 XRF-2020系列


工作原理│₪✘:

根據熒光譜線元素能量位置以及其強度確定鍍層的組成以及厚度↟↟•☁。

用X熒光光譜儀測試金屬鍍層精確₪✘,測試範圍廣₪✘,並且細微的面積以及超薄的鍍層都可以測試↟↟•☁。


綜上所述₪✘,對於金屬電鍍鍍層的膜厚測試₪✘,X射線熒光是快速無損檢測電鍍膜厚的*↟↟•☁。


X射線或粒子射線經物質照射後₪✘,由於吸收多餘的能量而變成不穩定的狀態↟↟•☁。從不穩定狀態要回到穩定狀態

此物質必需將多餘的能量釋放出來₪✘,而此時是以熒光或光的形態被釋放出來↟↟•☁。

熒光X射線鍍層厚度測量儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度

來進行鍍層厚度的測量及分析.


韓國XRF-2020鍍層測厚儀

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韓國測厚儀微先鋒XRF-2000

產品功能:

1. 採用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層厚度,單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層,不限基材!

1. 鍍層元素範圍:鈦~鈾,包含常見的金✘╃↟◕▩、鎳✘╃↟◕▩、銅✘╃↟◕▩、銀✘╃↟◕▩、錫✘╃↟◕▩、鋅✘╃↟◕▩、金,鉻,鋅鎳合金等↟↟•☁。

2. 鍍層層數:可測5層↟↟•☁。

3. 測量產品位置尺寸:標準配備0.2mm準直器,測量產品大於0.4mm(可訂製更小準直器)

4. 測量時間:通常15秒↟↟•☁。

5. H型號機箱容納樣品尺寸:550 x 550 x 100 mm (長x寬x高)↟↟•☁。

6  L型號機箱容納樣品尺寸:550 x 550 x 30 mm (長x寬x高)↟↟•☁。

7. 測量誤差:通常小於5%,視樣品具體情況而定↟↟•☁。

8. 可測厚度範圍:通常0.01微米到60微米,視樣品組成和鍍層結構而定↟↟•☁。


產品引數:

X射線光管 鎢靶,焦斑尺寸0.2-0.8mm

高電壓 50千伏(1毫安)可根據軟體控制最佳化

探測器 高分辨氣體正比計數探測器


韓國測厚儀微先鋒XRF-2000型號已升級為XRF-2020








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