更新時間☁╃▩│◕：2022-09-13
韓國MicroP XRF-2020膜厚儀檢測電子電鍍,五金電鍍,LED支架,端子聯結器,半導體等電鍍層厚度快速無損檢測電子電鍍層厚度蘇州電鍍測厚儀韓國XRF-2020膜厚儀
微先鋒韓國MicroP XRF-2020電鍍層測厚儀
產品功能☁╃▩│◕：
1. 採用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層厚度,單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層,不限基材✘☁✘！
1. 鍍層元素範圍☁╃▩│◕：鈦～鈾☁₪，包含常見的金☁╃◕◕◕、鎳☁╃◕◕◕、銅☁╃◕◕◕、銀☁╃◕◕◕、錫☁╃◕◕◕、鋅☁╃◕◕◕、金☁₪，鉻☁₪，鋅鎳合金等₪₪│。
2. 鍍層層數☁╃▩│◕：可測5層₪₪│。
3. 測量產品位置尺寸☁╃▩│◕：標準配備0.2mm準直器,測量產品大於0.4mm(可訂製更小準直器)
4. 測量時間☁╃▩│◕：通常15秒₪₪│。
5. H型號機箱容納樣品尺寸☁╃▩│◕：550 x 550 x 100 mm (長x寬x高)₪₪│。
6 L型號機箱容納樣品尺寸☁╃▩│◕：550 x 550 x 30 mm (長x寬x高)₪₪│。
7. 測量誤差☁╃▩│◕：通常小於5%☁₪，視樣品具體情況而定₪₪│。
8. 可測厚度範圍☁╃▩│◕：通常0.01微米到60微米☁₪，視樣品組成和鍍層結構而定₪₪│。
產品引數☁╃▩│◕：
X射線光管 鎢靶☁₪，焦斑尺寸0.2-0.8mm
高電壓 50千伏（1毫安）可根據軟體控制最佳化
探測器 高分辨氣體正比計數探測器
準直器 單一固定準直器直徑0.2mm(可選或訂製其他規格)
·全自樣品臺☁₪，自動雷射對焦
來進行鍍層厚度的測量及分析.
韓國XRF-2020鍍層測厚儀
微先鋒韓國XRF-2020型測厚儀
應用☁╃▩│◕：
檢測電子電鍍,五金電鍍,PCB板☁₪，LED支架半導體聯結器等電鍍層厚度₪₪│。
測量鍍金☁╃◕◕◕、鍍鋅☁╃◕◕◕、鍍鈀☁╃◕◕◕、鍍鉻☁╃◕◕◕、鍍銅☁╃◕◕◕、鍍銀☁╃◕◕◕、鍍錫☁╃◕◕◕、鍍鎳☁₪，鍍鋅鎳合金等
可測單層☁╃◕◕◕、雙層☁╃◕◕◕、多層☁╃◕◕◕、合金鍍層測量☁₪，不限底料
鍍銀測量範圍0.1-50um
鍍鎳測量範圍0.5-30um
鍍銅測量範圍0.5-30um
鍍錫測量範圍0.5-50um
鍍金測量範圍0.03-6um
鍍鋅測量範圍1-30um
鋅鎳合金測量範圍1-25um
鍍鉻測量範圍0.5-25um
儀器規格
XRF-2020L型:測量樣品長寬55cm,高3cm:檯面載重3kg
XRF-2020H型:測量樣品長寬55cm,高10cm:臺載重5kg
儀器全自動檯面,自動雷射對焦,多點自動測量
多個準直器可選擇☁╃▩│◕：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03×0.5mm
可配多個或單個準直器,準直器大小可自動切換
蘇州電鍍測厚儀韓國XRF-2020膜厚儀
13761400826
137-61400826
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