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膜厚校正片鍍層測厚儀標準片

更新時間•▩:2021-07-05

簡要描述•▩:

韓國微先鋒Micropioneer
XRF-2000測厚儀標準片
可應用各種X射線測厚儀品牌
用於校正測厚儀標準及新增應用程式
膜厚校正片鍍層測厚儀標準片

膜厚校正片鍍層測厚儀標準片(韓國Micropioneer)

標準片均附證書

 

標準片可應用各種品牌X射線測厚儀

 

用於校正鍍層測厚儀標準曲線及新增應用程式

 

韓國XRF-2000測厚儀標準片•▩:

銅/鎳/鋅/鉻/銀/金/鈀/錫/鋅鎳合金等

標準片可訂製│₪,均附帶標準證書

 

電鍍測厚儀標準片膜厚儀校正片

標準片X射線測厚儀在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案☁╃╃。是膜厚測試中常用的標準曲線法│₪,是測量已知厚度或組成的標準樣品│₪,根據熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關係│₪,來得到標準曲線☁╃╃。以此標準曲線來測量鍍層樣品│₪,以得到鍍層厚度或組成比率☁╃╃。對於PCB╃▩₪╃、五金電鍍和半導體等行業使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用☁╃╃。 

 

電鍍測厚儀標準片膜厚儀校正片銅│₪,鎳│₪,鉻│₪,鋅│₪,金│₪,銀│₪,錫│₪,鋅鎳│₪,鈀各種厚度及規格均可訂製│₪,校準片均附帶證書

 

 

膜厚校正片鍍層測厚儀標準片(韓國Micropioneer)

標準片均附證書

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