X-RAY膜厚儀韓國XRF-2000H型

X-RAY膜厚儀韓國XRF-2000H型

Micropioneer微先鋒

 儀器整機*☁│，配置全自動檯面☁│，自動雷射對焦,多實現多點自動測量

XRF-2000已升為XRF-2020型號如下圖

原產地•▩•│：韓國

品牌•▩•│：Micropioneer微先鋒

型號•▩•│：XRF-2020

適應於各類五金電鍍,電子聯結器端子等▩✘₪·。

可測金,鎳,銅,鋅,錫,銀,鈀,銠,鉑,鋅鎳合金等鍍層▩✘₪·。

應用廣泛☁│，適應電鍍生產企業☁│，產品來料檢測等▩✘₪·。

XRF-2020測厚儀

儀器特點:

全自動檯面☁│，自動雷射對焦☁│，多點自動測量

功能及應用•▩•│：

檢測電子電鍍,五金電鍍,端子聯結器,線路板,半導體等膜厚

可測單鍍層,雙鍍層,多鍍層,合金鍍層,不限底材▩✘₪·。

單層:如各種底材上鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍金等

雙層:如銅上鍍鎳再鍍金,銅上鍍鎳再鍍銀,鐵上鍍銅再鍍鎳等

多層:如ABS上鍍銅鍍鎳再鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳再鍍金等​合金鍍層•▩•│：

鐵上鍍鋅鎳,銅上鍍鎳磷等

X-射線測厚儀韓國XRF-2020

測量精度•▩•│：

表層•▩•│：±5%以內☁│，第二層•▩•│：±10%以內☁│，第三層•▩•│：±15%以內

韓國Miceopioneer

XRF-2020測厚儀型號規格

L型•▩•│：測量樣品長寬55cm,高3cm:檯面載重3kg

H型:測量樣品長寬55cm,高12cm:臺載重5kg

X-RAY膜厚儀韓國XRF-2000H型

儀器整機*☁│，配置全自動檯面☁│，自動雷射對焦,多實現多點自動測量