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X射線鍍層測厚儀

更新時間▩•₪:2021-11-10

簡要描述▩•₪:

X射線鍍層測厚儀主要透過X射線照射在樣品上│₪•·,從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來╃☁·。測量鍍層等金屬薄膜的厚度│₪•·,因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右│₪•·,所以不會對樣品造成損壞╃☁·。同時│₪•·,測量的也可以在10秒到幾分鐘內完成╃☁·。

  XRF-2020X射線鍍層測厚儀
  原產地▩•₪:韓國
  品牌▩•₪:Micropioneer微先鋒
  型號▩•₪:XRF-2020

  X射線鍍層測厚儀原理及應用
  X射線照射在樣品上│₪•·,透過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來╃☁·。測量鍍層等金屬薄膜的厚度│₪•·,因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右│₪•·,所以不會對樣品造成損壞╃☁·。同時│₪•·,測量的也可以在10秒到幾分鐘內完成╃☁·。

  適應於各類五金電鍍,電子聯結器端子等╃☁·。
  可測金,鎳,銅,鋅,錫,銀,鈀,銠,鉑,鋅鎳合金等鍍層╃☁·。
  應用廣泛│₪•·,適應電鍍生產企業│₪•·,產品來料檢測等╃☁·。

  儀器特點▩•₪:
  全自動檯面│₪•·,自動雷射對焦│₪•·,多點自動測量
  多功能·₪▩₪│、高精度·₪▩₪│、使用方便快捷╃☁·。測量時間只需10秒;
  可測0.03um-35um│₪•·,精度可達正負5%以內適用範圍廣·₪▩₪│、操作簡便╃☁·。

  功能及應用▩•₪:
  檢測電子電鍍,五金電鍍,端子聯結器,線路板,半導體等膜厚
  可測單鍍層,雙鍍層,多鍍層,合金鍍層,不限底材╃☁·。
  單層:如各種底材上鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍金等
  雙層:如銅上鍍鎳再鍍金,銅上鍍鎳再鍍銀,鐵上鍍銅再鍍鎳等
  多層:如ABS上鍍銅鍍鎳再鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳再鍍金等?合金鍍層▩•₪:
  鐵上鍍鋅鎳,銅上鍍鎳磷等

  測量精度▩•₪:
  表層▩•₪:±5%以內│₪•·,第二層▩•₪:±10%以內│₪•·,第三層▩•₪:±15%以內

  型號規格
  L型▩•₪:測量樣品長寬55cm,高3cm:檯面載重3kg
  H型:測量樣品長寬55cm,高12cm:臺載重5kg
  規格型號如下圖

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