L型韓國XRF-2020H型鍍層測厚儀

Micropioneer韓國微先鋒XRF-2020系列鍍層測厚儀

L型韓國XRF-2020H型鍍層測厚儀

檢測電子電鍍層厚度

H型機箱容納樣品高12cm內

L型機箱容納樣品高3cm

長寬均為55cm

儀器全自動檯面,自動雷射對焦✘✘·。

儀器可透過CCD鏡頭觀察快速無損測試鍍層膜厚

如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鋅鎳,鍍錫...

可測單層,雙層,多層,合金鍍層

XRF-2020測厚儀

韓國Micropioneer微先鋒系列

標牌₪☁₪◕•：Micro Pioneer

貨號₪☁₪◕•：XRF-2020H╃☁✘✘☁，XRF-2020L,XRF-PCB三款

 
XRF-2020測厚儀H型:測量樣品高度不超過12cm

XRF-2020測厚儀L型:測量樣品高度不超過3cm

XRF-2020測厚儀PCB型:測量樣品高度不超3cm

檢測電子電鍍,五金電鍍,端子聯結器等產品電鍍層厚度

可測量鍍金,鍍銀.鍍鋅.鍍鎳,鍍錫.鍍鉻,鍍鋅鎳等

可廣泛使用於電鍍生產企業及成品來料檢測

方便更有效控制產品電鍍層厚度及品質✘✘·。

 

韓國MicropioneerXRF-2020鍍層測厚儀

可用於測量工件•₪•·、PCB及五金•₪•·、聯結器•₪•·、半導體等產品的各種金屬鍍層的厚度✘✘·。只需要10-30秒即可獲得測量結果, 小測量面積為直徑為0.2mm的圓面積; 測量範圍₪☁₪◕•：0-35um;
可測量電鍍•₪•·、蒸鍍•₪•·、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度
可透過CCD攝像機來觀察及選擇任意的微小面積以進行微小面積鍍層厚度的測量

測量原理₪☁₪◕•：

物質經X射線或粒子射線照射後╃☁✘✘☁，由於吸收多餘的能量而變成不穩定的狀態✘✘·。從不穩定狀態要回到穩定狀態╃☁✘✘☁，此物質必需將多餘的能量釋放出來╃☁✘✘☁，而此時是以熒光或光的形態被釋放出來✘✘·。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度╃☁✘✘☁，來進行定性和定量分析✘✘·。
 

特徵₪☁₪◕•：

可測量電鍍•₪•·、蒸鍍•₪•·、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度
可透過CCD攝像機來觀察及選擇任意的微小面積以進行微小面積鍍層厚度的測量╃☁✘✘☁，避免直接接觸或破壞被測物✘✘·。

系統結構₪☁₪◕•：

測量部分的結構₪☁₪◕•：用於照射（激發）的X射線是採用由上往下照射方式╃☁✘✘☁，用準直器來確定X射線的光束大小✘✘·。

樣品的觀察是利用與照射用的X射線同軸的CCD攝像機所攝製的影象來確定想要測量的樣品位置✘✘·。標準配備了多種尺寸的準直器可根據需要調整照射X射線的光束大小來決定測量面積╃☁✘✘☁，可測量面積是40umф✘✘·。
 

操作部分₪☁₪◕•：

Excel和Word是標準配置╃☁✘✘☁，利用這些軟體
我們可以簡單快速地進行測量資料的統計處理及測量結果報告書的編輯和列印✘✘·。

 
XRF-2020測厚儀

韓國Micropioneer檢測範圍

 
鍍金₪☁₪◕•：0.03-6um
鍍鈀₪☁₪◕•：0.03-6um
鍍鎳₪☁₪◕•：0.5-30um
鍍錫₪☁₪◕•：0.3-50um
鍍銀₪☁₪◕•：0.1-50um
鍍鉻₪☁₪◕•：0.5-30um
鍍鋅₪☁₪◕•：0.5-30um
鍍鋅鎳合金₪☁₪◕•：0.5-30um

L型韓國XRF-2020H型鍍層測厚儀規格如下圖所示
  

可測單鍍層╃☁✘✘☁，雙鍍層╃☁✘✘☁，多鍍層╃☁✘✘☁，合金鍍層等╃☁✘✘☁，不限底材✘✘·。
如單鍍層銅上鍍銀╃☁✘✘☁，銅上鍍鎳╃☁✘✘☁，銅上鍍鋅╃☁✘✘☁，銅上鍍錫╃☁✘✘☁，鐵上鍍鎳等
雙鍍層如銅上鍍鎳鍍金╃☁✘✘☁，鐵上鍍銅鍍鎳╃☁✘✘☁，銅上鍍鎳鍍銀等╃☁✘✘☁，不限底材
多鍍層如₪☁₪◕•：ABS上鍍銅鍍鎳鍍鉻╃☁✘✘☁，鐵上鍍銅鍍鎳鍍金等╃☁✘✘☁，不限底材
合金鍍層如₪☁₪◕•：鐵上鍍鋅鎳等✘✘·。不限底材

韓國微先鋒X-RAY電鍍測厚儀

三款機型均為全自動檯面╃☁✘✘☁，自動雷射對焦✘✘·。