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測厚儀標準片膜厚校準片XRF-2020無損測試儀

更新時間│◕:2020-07-07

簡要描述│◕:

韓國微先鋒Micropioneer
XRF-2000測厚儀標準片
可應用各種X射線測厚儀品牌
用於校正測厚儀標準及新增應用程式
測厚儀標準片膜厚校準片XRF-2020無損測試儀

測厚儀標準片膜厚校準片XRF-2020無損測試儀

 

標準片可應用各種X射線測厚儀品牌

用於校正測厚儀標準及新增應用程式

 

韓國XRF-2020測厚儀標準片

銅/鎳/鋅/鉻/銀/金/鈀/錫/銠/鉑/鈀/鋅鎳合金等

各種厚度範圍均可訂製↟◕,附帶標準證書

 

鍍層測厚儀標準片

X射線測厚儀在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案✘·。

是膜厚測試中常用的標準曲線法↟◕,是測量已知厚度或組成的標準樣品

根據熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關係↟◕,來得到標準曲線✘·。

以此標準曲線來測量鍍層樣品↟◕,以得到鍍層厚度或組成比率✘·。

對於PCB₪◕◕、電子元器件↟◕,端子聯結器↟◕,五金電鍍和半導體等行業使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用✘·。 

鍍層測厚儀標準片實物如圖所示│◕:

 

測厚儀標準片膜厚校準片XRF-2020無損測試儀

 

XRF-2000測厚儀標準片

銅↟◕,鎳↟◕,鉻↟◕,鋅↟◕,金↟◕,銀↟◕,錫↟◕,鋅鎳↟◕,鈀↟◕,鉑↟◕,銠各種厚度及規格均可訂製↟◕,校準片均附帶證書

 

 

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