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X-RAY測厚儀標準片

更新時間▩▩:2020-11-20

簡要描述▩▩:

X-RAY測厚儀標準片可應用各種X射線測厚儀品牌,用於校正測厚儀標準及新增應用程式,鍍層測厚儀標準片X-RAY膜厚儀校正片

  X-RAY測厚儀標準片
 
  標準片可應用各種X射線測厚儀品牌
 
  用於校正測厚儀標準及新增應用程式
 
  韓國XRF-2020測厚儀標準片
 
  銅/鎳/鋅/鉻/銀/金/鈀/錫/銠/鉑/鈀/鋅鎳合金等
 
  各種厚度範圍均可訂製☁☁,附帶標準證書
 
  鍍層測厚儀標準片
 
  X射線測厚儀在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案•☁╃·。
 
  是膜厚測試中常用的標準曲線法☁☁,是測量已知厚度或組成的標準樣品
 
  根據熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關係☁☁,來得到標準曲線•☁╃·。
 
  以此標準曲線來測量鍍層樣品☁☁,以得到鍍層厚度或組成比率•☁╃·。
 
  對於PCB☁☁▩◕◕、電子元器件☁☁,端子聯結器☁☁,五金電鍍和半導體等行業使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用•☁╃·。
 
  鍍層測厚儀標準片X-RAY膜厚儀校正片實物如圖所示▩▩:
 
X-RAY測厚儀標準片
 
  銅☁☁,鎳☁☁,鉻☁☁,鋅☁☁,金☁☁,銀☁☁,錫☁☁,鋅鎳☁☁,鈀☁☁,鉑☁☁,銠各種厚度及規格均可訂製☁☁,校準片均附帶證書
 

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