X射線是電磁波譜中的某特定波長範圍內的電磁波╃☁✘✘☁，其特性通常用能量（單位₪☁₪◕•：千電子伏特╃☁✘✘☁，keV）和波長（單位₪☁₪◕•：鈉米╃☁✘✘☁，nm）描述✘✘·。X射線熒光是原子內產生變化所致的現象✘✘·。一個穩定的原子結構由原子核及核外電子組成✘✘·。這些核外電子圍繞著原子核按不同軌道運轉╃☁✘✘☁，它們按不同的能量分佈在不同的電子殼層₪☁₪◕•：分佈在同一殼層的電子具有相同的能量✘✘·。

　　當具有高能量的入射（一次）X射線與原子發生碰撞時╃☁✘✘☁，會打破原子結構的穩定性✘✘·。處於低能量電子殼層（如₪☁₪◕•：K層）的電子更容易被激發而從原子中逐放出來╃☁✘✘☁，電子的逐放會導致該電子殼層出現相應的電子空位✘✘·。這時處於高能量電子殼層的電子（如₪☁₪◕•：L層）會躍遷到該低能量電子殼層來補充相應的電子空位✘✘·。由於不同電子殼層之間存在著能量差距╃☁✘✘☁，這些能量上的差以二次X射線的形式釋放出來╃☁✘✘☁，不同的元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量特性✘✘·。儀器透過探測不同的元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量特性╃☁✘✘☁，進行分析計算得到各鍍層厚度╃☁✘✘☁，這一個過程就是我們所說的X射線鍍層測厚儀✘✘·。
 

　　x射線鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上的✘✘·。強度的衰減將主要是由於材料對樣品的吸收╃☁✘✘☁，以及從樣品中反射的第二X射線的強度✘✘·。測量了塗層等金屬膜的厚度✘✘·。因為有樣品和X射線輻照對樣品無接觸只有45-75w╃☁✘✘☁，所以不會造成樣品損傷✘✘·。同時╃☁✘✘☁，測量也可以在10到幾分鐘內完成✘✘·。

　　X射線鍍層測厚儀的特徵:

　　1•₪•·、可測量電鍍•₪•·、蒸鍍•₪•·、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度✘✘·。

　　2•₪•·、CCD攝像機可以觀察和選擇小面積測量塗層的厚度╃☁✘✘☁，避免直接接觸或破壞被測物體✘✘·。

　　3•₪•·、擁有鍍層厚度測量和成分分析等250多個標準樣品✘✘·。