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x射線鍍層測厚儀探討鍍層測厚是怎樣的一個過程
釋出時間₪☁₪◕•:2020-03-12   點選次數₪☁₪◕•:617次
   為使產品化╃☁✘✘☁,我國出口商品和涉外專案中╃☁✘✘☁,對鍍層厚度有了明確要求✘✘·。x射線鍍層測厚儀一款快速•₪•·、無損•₪•·、準確檢測鍍層厚度儀器✘✘·。可以用於檢測電子電鍍,化學鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀...鍍層厚度✘✘·。
  X射線是電磁波譜中的某特定波長範圍內的電磁波╃☁✘✘☁,其特性通常用能量(單位₪☁₪◕•:千電子伏特╃☁✘✘☁,keV)和波長(單位₪☁₪◕•:鈉米╃☁✘✘☁,nm)描述✘✘·。X射線熒光是原子內產生變化所致的現象✘✘·。一個穩定的原子結構由原子核及核外電子組成✘✘·。這些核外電子圍繞著原子核按不同軌道運轉╃☁✘✘☁,它們按不同的能量分佈在不同的電子殼層₪☁₪◕•:分佈在同一殼層的電子具有相同的能量✘✘·。
  當具有高能量的入射(一次)X射線與原子發生碰撞時╃☁✘✘☁,會打破原子結構的穩定性✘✘·。處於低能量電子殼層(如₪☁₪◕•:K層)的電子更容易被激發而從原子中逐放出來╃☁✘✘☁,電子的逐放會導致該電子殼層出現相應的電子空位✘✘·。這時處於高能量電子殼層的電子(如₪☁₪◕•:L層)會躍遷到該低能量電子殼層來補充相應的電子空位✘✘·。由於不同電子殼層之間存在著能量差距╃☁✘✘☁,這些能量上的差以二次X射線的形式釋放出來╃☁✘✘☁,不同的元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量特性✘✘·。儀器透過探測不同的元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量特性╃☁✘✘☁,進行分析計算得到各鍍層厚度╃☁✘✘☁,這一個過程就是我們所說的X射線鍍層測厚儀✘✘·。
 
  x射線鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上的✘✘·。強度的衰減將主要是由於材料對樣品的吸收╃☁✘✘☁,以及從樣品中反射的第二X射線的強度✘✘·。測量了塗層等金屬膜的厚度✘✘·。因為有樣品和X射線輻照對樣品無接觸只有45-75w╃☁✘✘☁,所以不會造成樣品損傷✘✘·。同時╃☁✘✘☁,測量也可以在10到幾分鐘內完成✘✘·。
  X射線鍍層測厚儀的特徵:
  1•₪•·、可測量電鍍•₪•·、蒸鍍•₪•·、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度✘✘·。
  2•₪•·、CCD攝像機可以觀察和選擇小面積測量塗層的厚度╃☁✘✘☁,避免直接接觸或破壞被測物體✘✘·。
  3•₪•·、擁有鍍層厚度測量和成分分析等250多個標準樣品✘✘·。
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