為使產品化↟✘◕,我國出口商品和涉外專案中↟✘◕,對鍍層厚度有了明確要求▩·☁。
x射線鍍層測厚儀一款快速✘↟▩☁、無損✘↟▩☁、準確檢測鍍層厚度儀器▩·☁。可以用於檢測電子電鍍,化學鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀...鍍層厚度▩·☁。
X射線是電磁波譜中的某特定波長範圍內的電磁波↟✘◕,其特性通常用能量(單位₪╃:千電子伏特↟✘◕,keV)和波長(單位₪╃:鈉米↟✘◕,nm)描述▩·☁。X射線熒光是原子內產生變化所致的現象▩·☁。一個穩定的原子結構由原子核及核外電子組成▩·☁。這些核外電子圍繞著原子核按不同軌道運轉↟✘◕,它們按不同的能量分佈在不同的電子殼層₪╃:分佈在同一殼層的電子具有相同的能量▩·☁。
當具有高能量的入射(一次)X射線與原子發生碰撞時↟✘◕,會打破原子結構的穩定性▩·☁。處於低能量電子殼層(如₪╃:K層)的電子更容易被激發而從原子中逐放出來↟✘◕,電子的逐放會導致該電子殼層出現相應的電子空位▩·☁。這時處於高能量電子殼層的電子(如₪╃:L層)會躍遷到該低能量電子殼層來補充相應的電子空位▩·☁。由於不同電子殼層之間存在著能量差距↟✘◕,這些能量上的差以二次X射線的形式釋放出來↟✘◕,不同的元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量特性▩·☁。儀器透過探測不同的元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量特性↟✘◕,進行分析計算得到各鍍層厚度↟✘◕,這一個過程就是我們所說的X射線鍍層測厚儀▩·☁。
x射線鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上的▩·☁。強度的衰減將主要是由於材料對樣品的吸收↟✘◕,以及從樣品中反射的第二X射線的強度▩·☁。測量了塗層等金屬膜的厚度▩·☁。因為有樣品和X射線輻照對樣品無接觸只有45-75w↟✘◕,所以不會造成樣品損傷▩·☁。同時↟✘◕,測量也可以在10到幾分鐘內完成▩·☁。
X射線鍍層測厚儀的特徵:
1✘↟▩☁、可測量電鍍✘↟▩☁、蒸鍍✘↟▩☁、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度▩·☁。
2✘↟▩☁、CCD攝像機可以觀察和選擇小面積測量塗層的厚度↟✘◕,避免直接接觸或破壞被測物體▩·☁。
3✘↟▩☁、擁有鍍層厚度測量和成分分析等250多個標準樣品▩·☁。