X熒光鍍層測厚儀使用過程中需要注意的問題↟╃◕✘：

　　1．該儀器是一種電子儀器╃·，儀器在進行測量之前要預熱30分鐘以上▩│✘▩。

　　2．X射線熒光分析方法╃·，是對光電子進行大量累積統計的結果．因此測量時間不能太短▩│✘▩。足夠的測量時間,儘量減小隨機誤差.規定單次測量時間應不小於30秒▩│✘▩。

　　3．準直器越小╃·，檢測效率和統計平均的效果都將下降╃·，測量程式中所用準直器大小的選擇╃·，應與實際測量應用時相一致▩│✘▩。

　　4．因為受到可用厚度標準塊的限制╃·，厚度測量示值誤差中所用的標準塊╃·，可根據條件許可▩│✘▩。

　　5．選擇1～54"標準塊進行測量╃·，選擇的基本原則是↟╃◕✘：鍍層與基體的材料應與測量程式相一致╃·，厚度的分佈應能覆蓋測量程式所用的範圍╃·，當厚度標準塊的數量受限╃·，應儘量選擇與實際測量應用相接近的厚度塊

　　6．如果有必要可以改變相關的測量條件再進行重複性測量▩│✘▩。

　　X熒光鍍層測厚儀測量結果超出校準範圍是什麼原因造成的↟╃◕✘：鍍層厚度或成分與強度之間的關係在小範圍內是線性關係╃·，但在較大範圍內可能是曲線關係▩│✘▩。因此╃·，校準曲線被最佳化╃·，在有限的厚度和成分範圍內工作╃·，而不是覆蓋整個分析範圍▩│✘▩。該最佳化範圍由迴歸設定及建立校準曲線時使用的標樣決定▩│✘▩。使用者可與XRF鍍層測厚儀制造商合作╃·，瞭解校準曲線範圍╃·，如果測量結果超出該範圍╃·，則在使用者的軟體中設定警告▩│✘▩。