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電鍍層測厚儀的選型注意事項
釋出時間│╃:2022-07-18   點選次數│╃:191次
  電鍍層測厚儀可測量電鍍·•、蒸鍍·•、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度;可透過CCD攝像機來觀察及選擇任意的微小面積以進行微小面積鍍層厚度的測量▩▩☁₪₪,避免直接接觸或破壞被測物◕▩。薄膜FP法軟體是標準配置▩▩☁₪₪,可同時對多層鍍層及合金鍍層厚度和成分進行測量◕▩。此外▩▩☁₪₪,也適用於無鉛焊錫的應用◕▩。可廣泛應用於各類五金電鍍件的鍍層厚度管控分析;分析電子部品電鍍層的厚度;各鍍層的成分比例分析◕▩。
  電鍍層測厚儀測量原理│╃:
  採用電渦流原理的測厚儀▩▩☁₪₪,原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量▩▩☁₪₪,如航天航空器表面·•、車輛·•、家電·•、鋁合金門窗及其它鋁製品表面的漆▩▩☁₪₪,塑膠塗層及陽極氧化膜◕▩。覆層材料有一定的導電性▩▩☁₪₪,透過校準同樣也可測量▩▩☁₪₪,但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)◕▩。雖然鋼鐵基體亦為導電體▩▩☁₪₪,但這類任務還是採用磁性原理測量較為合適◕▩。
  電鍍層測厚儀選型注意事項│╃:
  1.首先需要了解測試的需求▩▩☁₪₪,如測試基體材料·•、塗鍍層材料·•、測試範圍及精度需求▩▩☁₪₪,若溼膜或高溫條件下測量時需特別說明◕▩。
  2.其次對於塑膠膜▩▩☁₪₪,紙巾▩▩☁₪₪,錫紙厚度的測量▩▩☁₪₪,測量儀型號的選擇不受限制◕▩。
  3.對於有曲率的工件需提供曲率半徑值▩▩☁₪₪,對比電鍍層測厚儀的曲率是否滿足現場測量需求▩▩☁₪₪,如超標需要配置特配探頭◕▩。
  4.測厚儀的標準配置包含校準試片▩▩☁₪₪,不能減配▩▩☁₪₪,否則影響儀器後續校準和測量精度◕▩。
  5.選擇使用磁阻式塗層測量儀時▩▩☁₪₪,使用環境周圍不能存在磁場◕▩。
  6.對於特殊行業的應用需選擇不同型別的感測器▩▩☁₪₪,滄州歐譜比如是否是超厚塗層測量◕▩。
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