功能✘│╃◕☁、資料✘│╃◕☁、操作✘│╃◕☁、顯示全部是中文測量方法•↟。

　　覆層厚度的測量方法主要有◕₪☁₪：楔切法◕◕✘，光截法◕◕✘，電解法◕◕✘，厚度差測量法◕◕✘，稱重法◕◕✘，X射線熒光法◕◕✘，β射線反向散射法◕◕✘，電容法✘│╃◕☁、磁性測量法及渦流測量法等•↟。這些方法中前五種是有損檢測◕◕✘，測量手段繁瑣◕◕✘，速度慢◕◕✘，多適用於抽樣檢驗•↟。

　　X射線和β射線法是無接觸無損測量◕◕✘，但裝置複雜昂貴◕◕✘，測量範圍較小•↟。因有放射源◕◕✘，使用者必須遵守射線防護規範•↟。X射線法可測極薄鍍層✘│╃◕☁、雙鍍層✘│╃◕☁、合金鍍層•↟。β射線法適合鍍層和底材原子序號大於3的鍍層測量•↟。

　　鍍鎳測厚儀測試誤差出現的原因◕₪☁₪：

　　零件放置方向不正確◕₪☁₪：對於平直零件◕◕✘，旋轉角度不是問題◕◕✘，因為XRF鍍層測厚儀訊號不受影響•↟。但是◕◕✘，對於彎曲零件◕◕✘，非常重要的是◕◕✘，將零件的軸與X射線管和探測器的軸向保持一致•↟。這使零件對齊更容易且資料再現性更好◕◕✘，這可以方便X射線束照射在凸形零件頂部或凹形零件底部◕◕✘，而不是側壁上•↟。與前述聚焦的情況類似◕◕✘，錯位測量也會改變X射線管-樣品-探測器間的距離•↟。在不好的情況下◕◕✘，零件未對齊可能會使所有XRF鍍層測厚儀訊號無法到達探測器•↟。

　　測量結果超出校準範圍◕₪☁₪：鍍層厚度或成分與強度之間的關係在小範圍內是線性關係◕◕✘，但在較大範圍內可能是曲線關係•↟。因此◕◕✘，校準曲線被最佳化◕◕✘，在有限的厚度和成分範圍內工作◕◕✘，而不是覆蓋整個分析範圍•↟。該最佳化範圍由迴歸設定及建立校準曲線時使用的標樣決定•↟。使用者可與XRF鍍層測厚儀制造商合作◕◕✘，瞭解校準曲線範圍◕◕✘，如果測量結果超出該範圍◕◕✘，則在使用者的軟體中設定警告•↟。