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鍍鎳測厚儀儀器測試誤差出現的原因
釋出時間◕₪☁₪:2022-05-11   點選次數◕₪☁₪:88次
  鍍鎳測厚儀儀器特點有以下這些◕₪☁₪:
  功能✘│╃◕☁、資料✘│╃◕☁、操作✘│╃◕☁、顯示全部是中文測量方法•↟。
  覆層厚度的測量方法主要有◕₪☁₪:楔切法◕◕✘,光截法◕◕✘,電解法◕◕✘,厚度差測量法◕◕✘,稱重法◕◕✘,X射線熒光法◕◕✘,β射線反向散射法◕◕✘,電容法✘│╃◕☁、磁性測量法及渦流測量法等•↟。這些方法中前五種是有損檢測◕◕✘,測量手段繁瑣◕◕✘,速度慢◕◕✘,多適用於抽樣檢驗•↟。
  X射線和β射線法是無接觸無損測量◕◕✘,但裝置複雜昂貴◕◕✘,測量範圍較小•↟。因有放射源◕◕✘,使用者必須遵守射線防護規範•↟。X射線法可測極薄鍍層✘│╃◕☁、雙鍍層✘│╃◕☁、合金鍍層•↟。β射線法適合鍍層和底材原子序號大於3的鍍層測量•↟。
  鍍鎳測厚儀測試誤差出現的原因◕₪☁₪:
  零件放置方向不正確◕₪☁₪:對於平直零件◕◕✘,旋轉角度不是問題◕◕✘,因為XRF鍍層測厚儀訊號不受影響•↟。但是◕◕✘,對於彎曲零件◕◕✘,非常重要的是◕◕✘,將零件的軸與X射線管和探測器的軸向保持一致•↟。這使零件對齊更容易且資料再現性更好◕◕✘,這可以方便X射線束照射在凸形零件頂部或凹形零件底部◕◕✘,而不是側壁上•↟。與前述聚焦的情況類似◕◕✘,錯位測量也會改變X射線管-樣品-探測器間的距離•↟。在不好的情況下◕◕✘,零件未對齊可能會使所有XRF鍍層測厚儀訊號無法到達探測器•↟。
  測量結果超出校準範圍◕₪☁₪:鍍層厚度或成分與強度之間的關係在小範圍內是線性關係◕◕✘,但在較大範圍內可能是曲線關係•↟。因此◕◕✘,校準曲線被最佳化◕◕✘,在有限的厚度和成分範圍內工作◕◕✘,而不是覆蓋整個分析範圍•↟。該最佳化範圍由迴歸設定及建立校準曲線時使用的標樣決定•↟。使用者可與XRF鍍層測厚儀制造商合作◕◕✘,瞭解校準曲線範圍◕◕✘,如果測量結果超出該範圍◕◕✘,則在使用者的軟體中設定警告•↟。
 

鍍鎳測厚儀

 

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