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鍍鎳測厚儀儀器測試誤差出現的原因
釋出時間◕◕╃:2022-05-11   點選次數◕◕╃:211次
  鍍鎳測厚儀儀器特點有以下這些◕◕╃:
  功能₪•✘╃、資料₪•✘╃、操作₪•✘╃、顯示全部是中文測量方法··✘↟│。
  覆層厚度的測量方法主要有◕◕╃:楔切法•│,光截法•│,電解法•│,厚度差測量法•│,稱重法•│,X射線熒光法•│,β射線反向散射法•│,電容法₪•✘╃、磁性測量法及渦流測量法等··✘↟│。這些方法中前五種是有損檢測•│,測量手段繁瑣•│,速度慢•│,多適用於抽樣檢驗··✘↟│。
  X射線和β射線法是無接觸無損測量•│,但裝置複雜昂貴•│,測量範圍較小··✘↟│。因有放射源•│,使用者必須遵守射線防護規範··✘↟│。X射線法可測極薄鍍層₪•✘╃、雙鍍層₪•✘╃、合金鍍層··✘↟│。β射線法適合鍍層和底材原子序號大於3的鍍層測量··✘↟│。
  鍍鎳測厚儀測試誤差出現的原因◕◕╃:
  零件放置方向不正確◕◕╃:對於平直零件•│,旋轉角度不是問題•│,因為XRF鍍層測厚儀訊號不受影響··✘↟│。但是•│,對於彎曲零件•│,非常重要的是•│,將零件的軸與X射線管和探測器的軸向保持一致··✘↟│。這使零件對齊更容易且資料再現性更好•│,這可以方便X射線束照射在凸形零件頂部或凹形零件底部•│,而不是側壁上··✘↟│。與前述聚焦的情況類似•│,錯位測量也會改變X射線管-樣品-探測器間的距離··✘↟│。在不好的情況下•│,零件未對齊可能會使所有XRF鍍層測厚儀訊號無法到達探測器··✘↟│。
  測量結果超出校準範圍◕◕╃:鍍層厚度或成分與強度之間的關係在小範圍內是線性關係•│,但在較大範圍內可能是曲線關係··✘↟│。因此•│,校準曲線被最佳化•│,在有限的厚度和成分範圍內工作•│,而不是覆蓋整個分析範圍··✘↟│。該最佳化範圍由迴歸設定及建立校準曲線時使用的標樣決定··✘↟│。使用者可與XRF鍍層測厚儀制造商合作•│,瞭解校準曲線範圍•│,如果測量結果超出該範圍•│,則在使用者的軟體中設定警告··✘↟│。
 

鍍鎳測厚儀

 

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