功能₪•✘╃、資料₪•✘╃、操作₪•✘╃、顯示全部是中文測量方法··✘↟│。

　　覆層厚度的測量方法主要有◕◕╃：楔切法•│，光截法•│，電解法•│，厚度差測量法•│，稱重法•│，X射線熒光法•│，β射線反向散射法•│，電容法₪•✘╃、磁性測量法及渦流測量法等··✘↟│。這些方法中前五種是有損檢測•│，測量手段繁瑣•│，速度慢•│，多適用於抽樣檢驗··✘↟│。

　　X射線和β射線法是無接觸無損測量•│，但裝置複雜昂貴•│，測量範圍較小··✘↟│。因有放射源•│，使用者必須遵守射線防護規範··✘↟│。X射線法可測極薄鍍層₪•✘╃、雙鍍層₪•✘╃、合金鍍層··✘↟│。β射線法適合鍍層和底材原子序號大於3的鍍層測量··✘↟│。

　　鍍鎳測厚儀測試誤差出現的原因◕◕╃：

　　零件放置方向不正確◕◕╃：對於平直零件•│，旋轉角度不是問題•│，因為XRF鍍層測厚儀訊號不受影響··✘↟│。但是•│，對於彎曲零件•│，非常重要的是•│，將零件的軸與X射線管和探測器的軸向保持一致··✘↟│。這使零件對齊更容易且資料再現性更好•│，這可以方便X射線束照射在凸形零件頂部或凹形零件底部•│，而不是側壁上··✘↟│。與前述聚焦的情況類似•│，錯位測量也會改變X射線管-樣品-探測器間的距離··✘↟│。在不好的情況下•│，零件未對齊可能會使所有XRF鍍層測厚儀訊號無法到達探測器··✘↟│。

　　測量結果超出校準範圍◕◕╃：鍍層厚度或成分與強度之間的關係在小範圍內是線性關係•│，但在較大範圍內可能是曲線關係··✘↟│。因此•│，校準曲線被最佳化•│，在有限的厚度和成分範圍內工作•│，而不是覆蓋整個分析範圍··✘↟│。該最佳化範圍由迴歸設定及建立校準曲線時使用的標樣決定··✘↟│。使用者可與XRF鍍層測厚儀制造商合作•│，瞭解校準曲線範圍•│，如果測量結果超出該範圍•│，則在使用者的軟體中設定警告··✘↟│。