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金屬鍍層測厚儀主要測量方法介紹
釋出時間✘·│₪:2021-12-13   點選次數✘·│₪:205次
  金屬鍍層測厚儀主要應用於金屬鍍層的厚度測量☁▩✘•、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金☁▩✘•、鉑☁▩✘•、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測₪↟·。結構新穎☁▩✘•、體積小☁▩✘•、重量輕☁▩✘•、可靠₪↟·。由於採用機電一體結構│☁,整機運轉平穩│☁,無振動│☁,操作簡單│☁,實驗速度快│☁,降低勞動強度₪↟·。它是一種對材料表面保護☁▩✘•、裝飾形成的覆蓋層進行厚度測量的儀器│☁,測量的物件包括塗層☁▩✘•、鍍層☁▩✘•、敷層☁▩✘•、貼層☁▩✘•、化學生成膜等₪↟·。

  金屬鍍層測厚儀儀器試驗步驟✘·│₪:
  1.將金屬鍍層測量儀與試樣放置在規定的環境中放置4h後測量₪↟·。
  2.每次測量前用無水乙醇擦拭儀器的測量頭₪↟·。
  3.將試樣平放在測量儀的橡膠板上│☁,使測量頭與金屬鍍層接觸良好₪↟·。
  4.每次測量前儀器必須校零₪↟·。
  5.測量試樣的電阻值₪↟·。測試的實驗結果自動顯示列印金屬鍍層的方塊電阻☁▩✘•、金屬鍍層厚度和均勻度₪↟·。

  金屬鍍層測厚儀主要測量方法是採用磁感應原理時│☁,利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小│☁,來測定覆層厚度₪↟·。也可以測定與之對應的磁阻的大小│☁,來表示其覆層厚度₪↟·。磁性測厚法的膜厚儀是一種超小型測量儀│☁,它能快速│☁,無損傷│☁,精確地進行鐵磁性金屬基體上的噴塗₪↟·。電鍍層厚度的測量₪↟·。可廣泛用於製造業│☁,金屬加工業│☁,化工業│☁,商檢等檢測領域₪↟·。特別適用於工程現場測量₪↟·。
  二次熒光法的測厚儀的原理是物質經X射線或粒子射線照射後│☁,由於吸收多餘的能量而變成不穩定的狀態₪↟·。從不穩定狀態要回到穩定狀態│☁,此物質必需將多餘的能量釋放出來│☁,而此時是以熒光或光的形態被釋放出來₪↟·。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度│☁,來進行定性和定量分析₪↟·。
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