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X-RAY測厚儀標準片的使用和選擇
釋出時間╃··◕:2021-05-24   點選次數╃··◕:409次
   X-RAY測厚儀標準片專業用於測厚儀在測金屬鍍層厚度的時候進行的標準化校準↟◕☁✘▩,這樣使用使得測厚儀所測的誤差值變小↟◕☁✘▩,對於半導體生產行業↟◕☁✘▩,電鍍行業使用測厚儀所造成的成本檢測起到了很重要的作用◕▩·▩◕。標準片一般分為單鍍層片↟◕☁✘▩,雙鍍層片₪✘╃、多鍍層片₪✘╃、合金鍍層片₪✘╃、化學鍍層片◕▩·▩◕。
  X-RAY測厚儀標準片的使用和選擇╃··◕:
  厚度由X射線吸收方法或比率方法確定↟◕☁✘▩,則厚度標準塊的基體應與被測試樣的基體具有相同的X射線發射特性↟◕☁✘▩,透過比較被測試樣與校正參考標準塊的未鍍基體所選的特徵輻射的強度↟◕☁✘▩,然後透過軟體達到對儀器的校正◕▩·▩◕。
  可用標準塊的單位面積厚度單位校準儀器↟◕☁✘▩,厚度值必須伴隨著覆蓋層材料的密度來校正◕▩·▩◕。標準片應與被測試樣具有相同的覆蓋層和基體材料↟◕☁✘▩,但對試樣基材為合金成分的↟◕☁✘▩,有些儀器軟體允許標樣基材可與被測試樣基材不同↟◕☁✘▩,但前提是標準塊基體材料與試樣基材中的主元素相同◕▩·▩◕。
  X-RAY測厚儀標準片在使用時選擇適當的標準厚度塊對儀器進行示值校正↟◕☁✘▩,選擇一塊合適和一塊為儀器測量上限1/2的標準厚度塊作儀器高低兩端的示值校正◕▩·▩◕。測量範圍分為若干檔的儀器↟◕☁✘▩,其示值校正應在每檔分別進行◕▩·▩◕。
  X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時↟◕☁✘▩,X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性↟◕☁✘▩,從而測定材料的厚度↟◕☁✘▩,是一種非接觸式的動態計量儀器◕▩·▩◕。它以PLC和工業計算機為核心↟◕☁✘▩,採集計算資料並輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統↟◕☁✘▩,達到要求的軋製厚度◕▩·▩◕。主要應用行業╃··◕:有色金屬的板帶箔加工₪✘╃、冶金行業的板帶加工◕▩·▩◕。
 

X-RAY測厚儀標準片

 

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