鍍層測厚儀XRF-2020功能應用及原理

X射線或粒子射線經物質照射後↟✘◕，由於吸收多餘的能量而變成不穩定的狀態▩·☁。從不穩定狀態要回到穩定狀態↟✘◕，此物質必需將多餘的能量釋放出來↟✘◕，而此時是以熒光或光的形態被釋放出來▩·☁。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度↟✘◕，來進行定性和定量分析

應用例項圖示

鍍層測厚儀XRF-2020功能應用及原理

規格型號如下圖所示

三款規格型號如下圖所示

鍍層測厚儀MicroP XRF-2020

儀器整機*↟✘◕，配置全自動檯面↟✘◕，自動雷射對焦,多實現多點自動測量

功能及應用₪╃：

測量₪╃：鍍金✘↟▩☁、鍍鋅✘↟▩☁、鍍鈀✘↟▩☁、鍍鉻✘↟▩☁、鍍銅✘↟▩☁、鍍銀✘↟▩☁、鍍錫✘↟▩☁、鍍鎳↟✘◕，鍍鋅鎳合金

可測單鍍層↟✘◕，雙鍍層↟✘◕，多鍍層及合金鍍層↟✘◕，不限底材▩·☁。