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X-射線膜厚儀使用時注意這些方面
釋出時間│✘₪•·:2021-03-10   點選次數│✘₪•·:373次
  膜厚儀做為一種測量物體厚度的儀器•·✘↟│,在很多的行業領域都得到了廣泛的應用•·✘↟│,尤其是塗層測厚儀•·✘↟│,擁有測量精度高•·✘↟│,利用探頭接觸測量方式的優點·╃。
 
  臺式的熒光X射線膜厚儀•·✘↟│,是透過一次X射線穿透金屬元素樣品時產生低能量的光子•·✘↟│,俗稱為二次熒光•·✘↟│,在透過計算二次熒光的能量來計算厚度值·╃。
 
  X-射線膜厚儀的使用注意事項│✘₪•·:
 
  1.零點校準
 
  在每次使用膜厚儀之前需要進行光學校準•·✘↟│,因為之前的測量引數會影響該次對物體的測量•·✘↟│,零點校準可以消除前次測量有引數的影響•·✘↟│,能夠降低測量的結果的誤差•·✘↟│,使測量結果更加準確·╃。
 
  2.基體厚度不宜過薄
 
  在使用膜厚儀對物體進行測量時基體不宜過薄•·✘↟│,否則會大程度的影響儀器的測量精度•·✘↟│,造成資料結果不準確•·✘↟│,影響測量過程的正常進行·╃。
 
  3.物體表面粗糙程度
 
  對於被測物體的表面不宜太過粗糙•·✘↟│,因為粗糙的表面容易引起探頭接觸不到•·✘↟│,降低了塗層測厚儀的測量精度•·✘↟│,造成很大的誤差·╃。所以被測物體的表面應該儘量保持光滑•·✘↟│,以保證測量結果的準確性·╃。
 
  X-射線膜厚儀不測量這樣辦│✘₪•·:
 
  檢查探頭是否連線良好•·✘↟│,插到位 檢視探頭插頭插針情況·╃。
 
  檢查探頭線是否有斷的地方重點檢查探頭接外掛處(接頭處可以旋鈕擰開檢視)·╃。
 
  探頭頻繁大量使用•·✘↟│,感測器老化或損壞等·╃。
 
  其它主機線路元件故障諮詢公司售後服務或返廠檢修·╃。
 

X-射線膜厚儀

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