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X-RAY膜厚測試儀無需對樣品進行處理便能測量
釋出時間₪╃:2020-11-24   點選次數₪╃:404次
   X-RAY膜厚測試儀作為一種線上測量厚度的精密儀器··,在電鍍工藝生產中佔有非常重要的地位··,直接影響到電鍍產品的質量╃✘✘↟。採用X射線放射原理設計的,可對樣品進行無破壞,無接觸的測量,保證樣品的完整性,減少不必要的浪費,並且先進的FP數字計算法,對測量資料進行準確的計算,確保測量資料的準確性.
  1╃☁│·、不需要先對樣品進行處理便能測量╃✘✘↟。樣品可以直接放入測量室進行測量··,不需特別處理樣品╃✘✘↟。
  2╃☁│·、不需要複雜╃☁│·、昂貴的儀器來抽真空··,便能在正常的環境下測量從元素Z=13(鋁)至U=92(鈾)
  3╃☁│·、固體╃☁│·、漿狀及液體的樣本也可以測量╃✘✘↟。即使是極小不規則的測量面積也可快速··,免接觸的測量╃✘✘↟。
  X-RAY膜厚測試儀的詳細操作說明
  1.開機順序₪╃:開啟電腦→開啟X-RAY電源開頭(POWER)→開X-RAY V3專業測試軟體╃✘✘↟。輸入密碼T後··,按OK··,此後待電壓升至47.1KV後會自動進入軟體╃✘✘↟。
  2.關機順序₪╃:退出X-RAY V3專業測試軟體··,點選主視窗的關閉鍵··,等電壓降至OK V··,軟體介面會隨即關閉→關測試儀→關電腦╃✘✘↟。
  3.每天開機後··,先預熱半小時╃✘✘↟。
  4.預熱時間滿足後··,點選出System Adjust視窗··,用定位片放在鏡頭下··,按下START.每天需做此動作··,且在一定的時間段後軟體會自動彈出System Adjust視窗··,這時··,必須重複定位的動作··,在測試產品之前··,必先保證測試的準確性··,這就需要先測量膜厚標準塊··,測試資料在允許誤差範圍內(Sn 5% Ni5% Au5%)方可進行產品的測量╃✘✘↟。
  5.測量產品··,確定產品的底材及鍍層元素··,選擇對應的測量程式╃✘✘↟。時間10~30/S為宜··,金層應選擇上*╃✘✘↟。所測產品的面要儘可能的平整··,以免出現較大誤差╃✘✘↟。
  6.儲存測試報告··,在設定報告介面上··,輸入產品的資訊··,而後選擇匯出BMP圖··,也可直接列印╃✘✘↟。
  膜厚測試儀注意事項₪╃:
  1.放置產品和聚焦時勿觸碰到鏡頭··,且在移動測量檯面當儀器報警時··,說明所移動 方向的位移已到極限··,此時應立即朝反方向移動╃✘✘↟。
  2.發現有問題及需建測量程式時··,應立即通知道廠商過來解決╃✘✘↟。
  3.工作室應該保持室內溫度在18~30度為宜··,相對溼度在70%以下為佳··,保持儀器 及工作臺面的清潔╃✘✘↟。
  4.勿頻繁開頭儀器··,否則電流容易衝擊硬體設施··,另雷電天氣就關閉儀器╃✘✘↟。
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