X-RAY電鍍膜厚儀原理

X射線照射樣品•╃↟✘╃，經過鍍層介面•╃↟✘╃，射線返回的訊號發生突變

根據理論上同材質無限厚樣品反饋回強度的關係推斷鍍層的厚度☁·。

理論上兩層中含有同一元素測試很困難（訊號分不開）☁·。

XRF-2020鍍層測厚儀▩│：

別稱▩│：X射線熒光測厚儀₪│◕、鍍層測厚儀₪│◕、X-RAY膜厚儀₪│◕、膜厚測試儀

金鎳厚測試儀₪│◕、電鍍膜厚儀等☁·。

功能▩│：精密測量金屬電鍍層的厚度☁·。

應用範圍▩│：測量鍍層,塗層,薄膜,液體的厚度或組成,測量範圍從22(Ti)到92(U)☁·。

特點:

XRF-2020全自動檯面•╃↟✘╃，自動雷射對焦•╃↟✘╃，多點自動測量

功能及應用▩│：

檢測電子電鍍,五金電鍍,端子聯結器,線路板,半導體等膜厚

可測單鍍層,雙鍍層,多鍍層,合金鍍層,不限底材☁·。

單層:如各種底材上鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍金等

雙層:如銅上鍍鎳再鍍金,銅上鍍鎳再鍍銀,鐵上鍍銅再鍍鎳等

多層:如ABS上鍍銅鍍鎳再鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳再鍍金等​合金鍍層▩│：

鐵上鍍鋅鎳,銅上鍍鎳磷等

儀器測量精度▩│：

表層▩│：±5%以內•╃↟✘╃，第二層▩│：±10%以內•╃↟✘╃，第三層▩│：±15%以內

XRF-2020鍍層測厚儀規格型號如下圖

鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上•╃↟✘╃，透過從樣品上反射出zhi來的第二次X射線的強度來☁·。

測量鍍層等dao金屬薄膜的厚度

因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右•╃↟✘╃，所以不會對樣品造成損壞☁·。

同時•╃↟✘╃，測量也可以在10秒到幾分鐘內完成