X-RAY電鍍膜厚儀原理
X射線照射樣品•╃↟✘╃,經過鍍層介面•╃↟✘╃,射線返回的訊號發生突變
根據理論上同材質無限厚樣品反饋回強度的關係推斷鍍層的厚度☁·。
理論上兩層中含有同一元素測試很困難(訊號分不開)☁·。
XRF-2020鍍層測厚儀▩│:
別稱▩│:X射線熒光測厚儀₪│◕、鍍層測厚儀₪│◕、X-RAY膜厚儀₪│◕、膜厚測試儀
金鎳厚測試儀₪│◕、電鍍膜厚儀等☁·。
功能▩│:精密測量金屬電鍍層的厚度☁·。
應用範圍▩│:測量鍍層,塗層,薄膜,液體的厚度或組成,測量範圍從22(Ti)到92(U)☁·。
特點:
XRF-2020全自動檯面•╃↟✘╃,自動雷射對焦•╃↟✘╃,多點自動測量
功能及應用▩│:
檢測電子電鍍,五金電鍍,端子聯結器,線路板,半導體等膜厚
可測單鍍層,雙鍍層,多鍍層,合金鍍層,不限底材☁·。
單層:如各種底材上鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍金等
雙層:如銅上鍍鎳再鍍金,銅上鍍鎳再鍍銀,鐵上鍍銅再鍍鎳等
多層:如ABS上鍍銅鍍鎳再鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳再鍍金等合金鍍層▩│:
鐵上鍍鋅鎳,銅上鍍鎳磷等
儀器測量精度▩│:
表層▩│:±5%以內•╃↟✘╃,第二層▩│:±10%以內•╃↟✘╃,第三層▩│:±15%以內
XRF-2020鍍層測厚儀規格型號如下圖
鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上•╃↟✘╃,透過從樣品上反射出zhi來的第二次X射線的強度來☁·。
測量鍍層等dao金屬薄膜的厚度
因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右•╃↟✘╃,所以不會對樣品造成損壞☁·。
同時•╃↟✘╃,測量也可以在10秒到幾分鐘內完成
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