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X-RAY電鍍膜厚儀原理
釋出時間☁·↟│:2020-07-22   點選次數☁·↟│:1168次

X-RAY電鍍膜厚儀原理

 

X射線照射樣品✘↟•☁◕,經過鍍層介面✘↟•☁◕,射線返回的訊號發生突變

根據理論上同材質無限厚樣品反饋回強度的關係推斷鍍層的厚度│•·。

理論上兩層中含有同一元素測試很困難(訊號分不開)│•·。

XRF-2020鍍層測厚儀☁·↟│:


別稱☁·↟│:X射線熒光測厚儀↟·↟₪↟、鍍層測厚儀↟·↟₪↟、X-RAY膜厚儀↟·↟₪↟、膜厚測試儀

金鎳厚測試儀↟·↟₪↟、電鍍膜厚儀等│•·。

 

功能☁·↟│:精密測量金屬電鍍層的厚度│•·。


應用範圍☁·↟│:測量鍍層,塗層,薄膜,液體的厚度或組成,測量範圍從22(Ti)到92(U)│•·。

 

特點:

 

XRF-2020全自動檯面✘↟•☁◕,自動雷射對焦✘↟•☁◕,多點自動測量

 

功能及應用☁·↟│:

 

檢測電子電鍍,五金電鍍,端子聯結器,線路板,半導體等膜厚

可測單鍍層,雙鍍層,多鍍層,合金鍍層,不限底材│•·。

單層:如各種底材上鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍金等

雙層:如銅上鍍鎳再鍍金,銅上鍍鎳再鍍銀,鐵上鍍銅再鍍鎳等

多層:如ABS上鍍銅鍍鎳再鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳再鍍金等​合金鍍層☁·↟│:

鐵上鍍鋅鎳,銅上鍍鎳磷等

 

儀器測量精度☁·↟│:

表層☁·↟│:±5%以內✘↟•☁◕,第二層☁·↟│:±10%以內✘↟•☁◕,第三層☁·↟│:±15%以內

 

XRF-2020鍍層測厚儀規格型號如下圖

 

鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上✘↟•☁◕,透過從樣品上反射出zhi來的第二次X射線的強度來│•·。

測量鍍層等dao金屬薄膜的厚度

因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右✘↟•☁◕,所以不會對樣品造成損壞│•·。

同時✘↟•☁◕,測量也可以在10秒到幾分鐘內完成

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